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簡要描述:在同級產品中,Park XE7能夠帶來Z高納米級分辨率的測量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構,即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器,XE7能夠實現平滑、正交且線性的掃描測量,從而精確成像和測量樣品的特征。此外,Park所*的True Non-Contact™模式還能為您帶來*的圖像效果,探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。
產品分類
大型分析設備
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技術參數
XY掃描器:
Z掃描器:
樣品臺:
光學系統:
電路系統:
原子力顯微鏡 原子力顯微鏡
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